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西门子EDA线下技术研讨会：9月与您相约珠海
Day1 如何应对5G/Auto/AI/Cloud/IoT芯片的最新挑战 为贯彻落实《国家集成电路产业发展推进纲要》和《新时期促进集成电路产业和软件产业高质量发展的若干政策》，推动和培养设计人员更 ...查看更多
Saki 创新的 3D-AOI Z 轴系统将在 NEPCON ASIA 2021 上隆重亮相
将展示具有更广高度测量范围的自动检测技术，适用于多种多样的应用和制程检测 日本东京2021 年 8 月 3 日。自动化光学和 X 射线检测设备领域的创新型公司 Saki Corporation 将在 ...查看更多
7月23日 西门子EDA线上研讨会-洞察先机 破解先进制程最新挑战
随着AI时代的到来，市场上对大数据处理速度的需求越来越高。众所周知，工艺制程的进步是实现高性能计算最为有效的途径之一。因此，市场对先进制程的需求也会越来越旺盛。根据IC Insights发布的《202 ...查看更多
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2021 Siemens EDA 线上技术研讨会：破局电子设计未来挑战
2020年，新冠疫情席卷全球。以数字化为基础的新常态成为工作、生活的重要方式。对数字化的强劲需求使得全球集成电路/半导体跨越式增长。此外，随着5G、AI、IOT、汽车电子等新技术与应用场景的爆发式增长 ...查看更多
Koh Young谈3D AOI中的创新
最近采访了Koh Young Technology的海外销售团队经理Scott Kim，他跟我们分享了检测技术中的最新挑战和发展。我们还讨论了在购买检验系统时要考虑到的关键因素。 Stephen L ...查看更多
